X射线衍射法精确测定大晶粒UO₂芯块点阵常数
Journal: Engineering Technology Development DOI: 10.12238/etd.v6i2.12978
Abstract
大晶粒UO₂芯块因其优异的堆内性能,可以有效提高核电站安全性。晶体点阵常数作为其微观结构的重要参数,直接影响材料密度、热膨胀系数等关键性能指标,对优化核燃料设计和性能评估具有重要意义。本文采用X射线衍射法对大晶粒UO₂芯块点阵常数进行精确测定,通过对比不同制样及数据处理方法,测得普通UO₂芯块点阵常数为0.547036nm,与文献值一致,验证了测量准确性。添加0.10wt%Cr₂O₃和0.02wt%Al₂O₃后,UO₂芯块的平均晶粒尺寸从7.60μm增至43.37μm,由于固溶效应引发晶格收缩,点阵常数降至0.546750nm。本研究建立了高精度点阵常数的测定方法,同时揭示了掺杂剂对UO₂晶格结构的影响,对二氧化铀其他参数测定提供了数据支持。
Keywords
X射线衍射法;大晶粒二氧化铀;点阵常数;晶体结构
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[2] 任岩,段盼盼,冷科,等.大晶粒UO2芯块制备的研究现状[J].科技视界,2022(26):34-37.
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